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          ABI_3130XL測(ce)序(xu)儀為什麽(me)適合(he)臨床使(shi)用(yong)?
          更新時(shi)間(jian):2019-12-27   點(dian)擊(ji)次數(shu):2611次(ci)
             ABI_3130XL測(ce)序(xu)儀為什麽(me)適合(he)臨床使(shi)用(yong)?
            ABI_3130XL測(ce)序(xu)儀是適合(he)臨床檢(jian)測(ce)的桌(zhuo)面(mian)式(shi)高通量(liang)測(ce)序(xu)儀。它采(cai)用(yong)便(bian)捷的圖(tu)標觸控式(shi)操作(zuo)系(xi)統(tong),上(shang)機(ji)前僅需10分鐘(zhong)進(jin)行(xing)加(jia)樣(yang)和(he)系(xi)統(tong)設定,上(shang)機(ji)後(hou)無(wu)需手動(dong)操作(zuo),無(wu)需人員(yuan)看管,無(wu)需使(shi)用(yong)其(qi)它(ta)配(pei)套(tao)設備(bei)。只(zhi)需5個小時(shi)即(ji)可(ke)完(wan)成NIPT檢(jian)測(ce)所(suo)需的測(ce)序(xu)數(shu)據(ju)。
            簡便(bian)的上(shang)機(ji)操作(zuo)
            將樣品加(jia)入(ru)到芯片後(hou)啟(qi)動(dong)向導(dao)程(cheng)序(xu),接著將加(jia)好(hao)樣(yang)的芯片和(he)預(yu)制的測(ce)序(xu)試(shi)劑加(jia)載(zai)到測(ce)序(xu)試(shi)劑倉內(nei),壹(yi)鍵式(shi)啟動(dong)測(ce)序(xu)後(hou)再無(wu)手動(dong)操作(zuo),測(ce)序(xu)結(jie)束後(hou),系(xi)統(tong)進(jin)行(xing)自(zi)動(dong)清洗。
            數據(ju)質(zhi)量(liang)高
            ABI_3130XL測(ce)序(xu)儀的測(ce)序(xu)原(yuan)理,具(ju)有高(gao)度準(zhun)確(que)的特點。自(zi)2009年,該原(yuan)理的測(ce)序(xu)技(ji)術(shu)在(zai)同(tong)行(xing)審(shen)查的公(gong)開發(fa)表物(wu)中(zhong)被引用(yong)超(chao)過3800次。出產數據(ju)質(zhi)量(liang)高達Q30級(ji)別(bie)(單堿(jian)基錯(cuo)誤(wu)率(lv)為(wei)1/1000),對(dui)於大(da)於8個堿(jian)基長(chang)度的homopolymer(均(jun)聚(ju)體(ti))的測(ce)序(xu),能(neng)保(bao)證(zheng)壹致(zhi)的測(ce)序(xu)質(zhi)量(liang),而(er)不(bu)會(hui)發生插(cha)入缺(que)失的誤(wu)讀。數據(ju)質(zhi)量(liang)是評(ping)估(gu)測(ce)序(xu)技(ji)術(shu)*的zui重(zhong)要的標準(zhun)。
            通量(liang)靈活
            ABI_3130XL測(ce)序(xu)儀搭(da)載(zai)du創性的兩(liang)種不(bu)同(tong)通量(liang)的測(ce)序(xu)芯片:高(gao)通量(liang)芯片和(he)中通量(liang)芯片。通量(liang)靈活,可(ke)根(gen)據(ju)臨床樣(yang)本量(liang)自(zi)由選(xuan)擇,更加(jia)貼(tie)合(he)不(bu)同(tong)數(shu)量(liang)臨床樣(yang)本的實際需求(qiu),縮短樣本收集(ji)時(shi)間(jian),zui大(da)程(cheng)度提高測(ce)序(xu)儀的使(shi)用(yong)效(xiao)率(lv)。
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